半導體測試系統(tǒng)功能有哪些？

半導體測試系統(tǒng)用于全面自動檢驗半導體設(shè)備靜態(tài)參數(shù)的通用測試和測量系統(tǒng)，包括：場效應(yīng)管和雙極型晶體管、絕緣柵雙極型晶體管、二極管、晶閘管、穩(wěn)壓管、光導發(fā)光組件和微電子組件，以及： ● 電容測量：用于場效應(yīng)晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的輸入、交叉和輸出電容。半導體測試系統(tǒng) FORMULA? TT3 由FORMULA? TT3 ATE提供的各個階段的高水平全面自動化測試過程，使得我們有可能專注于半導體器件測試的運行特性和偏差分析上。 硬件/軟件、設(shè)計以及在系統(tǒng)測試中實現(xiàn)的計算解決方案保證了高度可靠的結(jié)果，這些結(jié)果使測試人員的工作不受程序和誤差的影響，并在工業(yè)設(shè)備進行測量和測試時顯著提高操作效率。

半導體測試系統(tǒng)用在進行半導體器件新開發(fā)類型的測試和研究，以及批量生產(chǎn)中測試時對半導體器件的質(zhì)量控制。 FORMULA? TT3滿足微電子測量和測試的計量標準要求。

半導體測試系統(tǒng)用于場效應(yīng)晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的柵漏、柵源和總電荷； ● 被動組件特定參數(shù)測量（L、C、R）。